影響抖動測試結果和精度的因素及實時示波器新應用
抖動測量與分析在串行數據電路設計和測試中至關重要,精確測量是工程師關注的焦點。影響抖動測試結果和精度的因素眾多,既涉及操作設置,也關乎儀器指標。
操作設置對抖動測試的影響
示波器測量設置
垂直刻度:信號在垂直刻度方向占滿7格左右,可充分利用垂直顯示精度。
水平方向:要有足夠采樣率和存儲深度。存儲深度不足,實時示波器可能無法正確進行時鐘恢復;存儲深度過長,運算速度會變慢。部分標準推薦特定數據量捕獲波形分析,如USB3.x和PCIE3.0推薦1M UI,PCIE4.0改為2M UI,一般性串行數據抖動分析應達100K UI量級以上。進行SSC測量時,若手動分析,需根據測量周期數和采樣率計算采樣深度。
閾值和遲滯設置:通常設信號幅度一半為閾值,差分總線為0V,有共模偏置的信號需先測量信號幅度和共模電壓以選取準確閾值。準確遲滯設置可避免示波器將信號邊沿不連續誤判為ISI抖動。
時鐘恢復算法:遵循被測信號規范設置時鐘恢復算法,是實時示波器抖動分析和分解的基礎。
其他設置:如ISI濾波器大小、Rj帶寬等也會影響抖動分解。不熟悉抖動測試時,可使用示波器上的抖動測試向導自動設置信號參數,還可安裝Keysight實時示波器離線軟件深入了解。
儀器指標對抖動測試的影響
測量系統帶寬
測量系統帶寬包括示波器、探頭、電纜及夾具等連接部件。帶寬不符合標準要求,低于規范會帶來額外ISI抖動。雖去嵌技術可部分解決,但會放大儀器本底噪聲,帶來額外誤差;過高帶寬會引入更多高頻帶噪聲。
實時示波器采樣率
更高采樣率有更高分辨率和邊沿解析度,能提高抖動分析精度。第三方Jitter Labs針對PCIE Gen4/Gen5時鐘測量結果顯示,同型號產品更高采樣率測試結果更好;相同級別采樣率下,Keysight公司產品相對更優。
儀器本底噪聲和固有抖動
Keysight公司產品噪聲本底和固有抖動更低,測量精度更高。實時示波器采用頻譜法進行抖動分析時,會將寬頻本底噪聲帶入RJ分析結果,增加誤差。儀器固有抖動也是誤差來源,且噪聲本底與信號跳變斜率相關。Keysight公司在EZJIT Plus/Complete軟件里提供去除示波器本身隨機抖動和噪聲的選項,提高測量精度。
波形捕獲時長
捕獲足夠時長波形用于數據分析很關鍵,可捕獲更多時鐘周期或數據UI,進行更準確抖動分析,還能捕獲更低頻抖動。選擇示波器時,推薦具有更長存儲深度配置的產品。
實時示波器在相噪測試領域的應用
相噪測試需求背景
隨著數據速率提高、裕量下降,僅從時域測量抖動已難以滿足需求。同時,實時示波器ADC位數從8bit向10bit升級,無雜散動態范圍等指標提高,如Keysight公司的S和UXR系列實時示波器實現了硬件10bit ADC全天候覆蓋,SFDR指標優異,使其開始進入頻域指標測量領域,如相位噪聲測試。
相噪測試優勢
節約投資:對于數字領域公司和工程師,無需專門投資相位噪聲測量儀器,利用現有實時示波器即可。
支持廣泛信號類型:可測量方波時鐘信號、帶SSC時鐘信號,尤其是SSC擴頻時鐘在高速串行數據標準中常見。
測量頻率范圍廣:可測量100MHz以上的時鐘頻率偏移,而頻域儀器一般限定在100MHz范圍內。
連接方式簡便:針對差分信號,示波器可采用高阻探頭直接探測或兩個通道輸入差分運算,無需額外Balun附件。
數據存儲能力強:可保存波形用于傳統數字分析工具。
Keysight公司解決方案
Keysight公司在2018年推出基于Infinium系列實時示波器的D9010/D9020JITA抖動/噪聲/相噪分析軟件,除包含EZJIT Complete功能外,還提供強大相噪測試功能,如繪制單邊帶相位噪聲、降低寬帶測量噪聲、測量差分時鐘相位噪聲等。相噪測試時可進行2 - 通道互相關降低儀器本底噪聲,通過功分將時鐘信號分成兩個信號輸入示波器兩個通道,執行雙通道互相關技術,減少內部噪聲。
本文回顧了抖動測試和分析的源起、基本方法、近年演進及對相位噪聲和抖動測試需求的挑戰,介紹了Keysight公司基于實時示波器的應對方案和探索。
技術支持